Содержание
Введение
ГОСТ 15624-75 (далее – стандарт) устанавливает применяемые в науке, технике и производстве термины и определения основных понятий масс-спектрометров.
Термины, установленные настоящим стандартом, обязательны для применения в документации всех видов, учебниках, учебных пособиях, технической и справочной литературе. Приведенные определения можно, при необходимости, изменять по форме изложения, не допуская нарушения границ понятия.
Для каждого понятия установлен один стандартизованный термин. Применение терминов-синонимов стандартизованного термина запрещается.
В стандарте приведены в качестве справочных иностранные эквиваленты стандартизованных терминов на немецком (D), английском (Е) и французском (F) языках.
Общие понятия
- Масс-спектр
- D. Massenspektrum; Е. Mass spectrum; F. Spectre de masse
- Условное отображение совокупности распределенных в пространстве и (или) во времени ионных пучков или пакетов исследуемого вещества, разделенных по значениям отношения массы иона к его заряду.
- Масс-спектрометр
- D. Massenspektrometer; Е. Mass spectrometer; F. Spektromètre de masse
- Прибор для количественного и (или) качественного определения состава и структуры веществ, изучения физико-химических процессов и явлений по масс-спектрам этих веществ.
- Статический масс-спектрометр
- D. Statisches Massenspektrometer; Е. Static mass spectrometer; F. Spektromètre de masse statique
- Масс-спектрометр, в котором разделение ионных пучков происходит в постоянных или медленно изменяющихся во времени электрических и магнитных полях.
Примечание — Период изменения электрического и магнитного полей статического масс-спектрометра много больше времени движения ионов в анализаторе.
- Масс-спектрометр, в котором разделение ионных пучков происходит в постоянных или медленно изменяющихся во времени электрических и магнитных полях.
- Динамический масс-спектрометр
- D. Dynamisches Massenspecktrometer; Е. Dynamic mass spectrometer; F. Spektromètre de masse dynamique
- Масс-спектрометр, в котором разделение ионных пучков или пакетов происходит в изменяющихся во времени электрических полях, период изменения которых соизмерим со временем движения ионов в анализаторе.
- Массовое число иона
- D. Massenzahl; Е. Mass number; F. Nombre de masse
- Целое число атомных единиц массы иона, равное сумме протонов и нейтронов иона.
- Дисперсия масс-спектрометра
- D. Dispersion des Massenspektrometers; Е. Mass spectrometer dispersion; F. Dispersion de spektromètre de masse
- Величина, характеризующая способность масс-спектрометра разделять ионные пучки по отношению массы иона к его заряду.
- Фокусировка ионного пучка по направлению
- D. Richtungsfokussierung des lonenstrahls; Е. Direction focusing of ion beam; F. Focalisation de faisceau ionique suivant direction
- Фокусировка ионов, имеющих различное начальное направление в одной или двух плоскостях.
- Фокусировка ионного пучка по скорости
- D. Geschwindigkeitsfokussierung des lonenstrahls; Е. Velocity focusing of ion beam; F. Focalisation de faisceau ionique suivant vitesse
- Фокусировка ионов, имеющих различную начальную скорость.
- Фокусировка ионного пучка по энергии
- D. Energiefokussierung des lonenstrahls; Е. Energy focusing of ion beam; F. Focalisation de faisceau ionique suivant énergie
- Фокусировка ионов, имеющих различную начальную энергию.
- Двойная фокусировка ионного пучка
- D. Doppelfokussierung des lonenstrahls; Е. Double-focusing of ion beam; F. Double focalisation de faisceau ionique
- Фокусировка ионного пучка по направлению в одной плоскости и по скорости или энергии.
- Тройная фокусировка ионного пучка
- D. Dreifachfokussierung des lonenstrahls; Е. Triple-focusing of ion beam; F. Triple focalisation de faisceau ionique
- Фокусировка ионного пучка по направлению в двух плоскостях и по скорости или энергии.
- Пик масс-спектра
- D. Peak des Massenspektrums; Е. Mass spectrum peak; F. Pie de spectre de masse
- Условное отображение распределения ионов с одинаковыми или близкими значениями масс, полученное при регистрации масс-спектра.
- Статический режим работы масс-спектрометра
- D. Statische Betreibweise des Massenspektrometers; Е. Static mode of mass spectrometer operation; F. Mode d'operations de spektromètre de masse statique
- Режим работы масс-спектрометра при перекрытой откачке анализатора и источника ионов.
- Динамический режим работы масс-спектрометра
- D. Dynamische Betriebweise des Massenspektrometers; Е. Dynamic mode of mass spectrometer operation; F. Mode d'operations de spektromètre de masse dynamique
- Режим работы масс-спектрометра при непрерывной откачке анализатора и источника ионов.
- Режим работы масс-спектрометра при непрерывной откачке анализатора и источника ионов.
Основные функциональные узлы
- Источник ионов масс-спектрометра
- D. lonenquelle des Massenspektrometers; Е. Mass spectrometer ion source; F. Source d'ions de spektromètre de masse
- Часть масс-спектрометра, предназначенная для образования ионов исследуемого вещества и формирования пучка ионов.
- Анализатор масс-спектрометра
- D. Analysator des Massenspektrometers; Е. Mass spectrometer analyzer; F. Analyseur de spektromètre de masse
- Часть масс-спектрометра, предназначенная для разделения и фокусировки пучков или пакетов ионов по значениям отношения массы ионов к их зарядам.
- Приемник ионов масс-спектрометра
- D. lonenauffänger des Massenspektrometers; Е. Mass spectrometer ion collector ; F. Collecteur d'ions de spektromètre de masse
- Часть масс-спектрометра, предназначенная для улавливания разделенных пучков или пакетов ионов.
- Система регистрации масс-спектрометра
- D. Aufnahmesystem des Massenspektrometers; Е. Measuring and detecting system of mass spectrometer; F. Système d'enregistrement de spektromètre de masse
- Устройство, предназначенное для измерения и записи ионных токов/
- Система ввода пробы масс-спектрометра
- D. Einlassystem des Massenspektrometers; Е. Mass spectrometer inlet system ; F. Système d'introduction d'échantillon de spektromètre de masse
- Устройство, предназначенное для подготовки и введения пробы в источник ионов.
- Устройство, предназначенное для подготовки и введения пробы в источник ионов.
Основные метрологические параметры
- Порог чувствительности масс-спектрометра
- D. Nachweisogrenze des Massenspektrometers; Е. Sensitivity limit of mass spectrometer; F. Limite de la sensibilité de spektromètre de masse
- Минимальное абсолютное или относительное количество компонента в исследуемом веществе, которое может быть определено при задаваемом отношении сигнал-шум.
- Коэффициент использования пробы
- D. Ausnutzunsfaktor der Probe; Е. Sample utilization factor; F. Coefficient d'itilisation d'échantillon
- Отношение числа ионов исследуемого вещества, зарегистрированных масс-спектрометром, к числу атомов или молекул этого вещества, введенных в источник ионов.
- Разрешающая способность масс-спектрометра
- D. Auflösungsvermögen des Massenspektrometers; Е. Mass spectrometer resolution; F. Pouvoir de résolution de spektromètre de masse
- Величина, характеризующая способность масс-спектрометра раздельно регистрировать ионы, близкие по массам.
- Диапазон массовых чисел масс-спектрометра
- D. Massenbereich; Е. Mass number range; F. Domaine de nombres de masse
- Область значений массовых чисел, ограниченная наименьшим и наибольшим значениями массовых чисел однозарядных ионов, которые могут быть зарегистрированы данным масс-спектрометром.
- Дискриминация ионов
- D. lonendiskriminierung; Е. Ion discrimination; F. Discrimination d'ions
- Эффект зависимости отношения количества регистрируемых ионов к количеству ионов, образовавшихся в источнике ионов, от массового числа и (или) начальных энергий ионов.
- Эффект зависимости отношения количества регистрируемых ионов к количеству ионов, образовавшихся в источнике ионов, от массового числа и (или) начальных энергий ионов.
Литература
- ГОСТ 15624-75 Масс-спектрометры. Термины и определения
- 111 просмотров
Добавить комментарий